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光學(xué)表面缺陷分析儀
021-64283335
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晶圓探針式輪廓儀是半導(dǎo)體制造中的精密守望者
在使用臺式納米壓痕儀進行測試時可能會遇到的問題
離子束沉積是一種常用的薄膜制備技術(shù)
Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料,又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進行檢測,其價格優(yōu)勢使其成為適合于研發(fā)/小批量生產(chǎn)過程中品質(zhì)管理及良率改善的有力工具。
服務(wù)熱線:13501903943